概倫電子申請半導體參數測試專利，實現高效實時的測試流程編輯與調試

概倫電子哀求半導體參數測試專利，完成高效及時的測試流程編纂與調試

金融界2024年4月26日消息，據國度知識產權局告示，上海概倫電子股份僅限公司哀求一項名為“基于表明型高等言語的半導體參數測試辦法及體系“，公開號CN117931623A，哀求日期為2023年12月。

專利擇要體現，本創造公開一種基于表明型高等言語的半導體參數測試辦法及體系，辦法包含以下步調：獲取如今測試的干系硬件裝備，舉行裝備辦理以完成與所述干系硬件裝備的通訊；獲取定制化測試算法，此中所述定制化測試算法是基于beanshell腳本調用體系中預置的測試流程開發模塊和內置編程接口模塊編寫完成；運轉所述定制化測試算法，經過預置的beanshell表明器對所述定制化測試算法舉行邊表明邊運轉；輸入所述定制化測試算法的測試后果。用戶可以編寫腳本步驟與使用高等言語編寫的接口模塊、開發模塊和高等言語表明模塊完成定制化測試流程，無需步驟編譯歷程，代碼可讀性和可維護性高，無需第三方的開發東西，完成高效及時的測試流程編纂與調試。

本文源自金融界